Chương VIII ĐO CÁC THÔNG SỐ HÌNH HỌC CỦA CHI TIẾT MÁY

Với phương pháp đo một tiếp điểm, đầu đo tiếp xúc với bề mặt đo từng điểm một. Từtọa độ các điểm đo, qua đó xác định được kích thước cần đo. Tùy theo cách đặt các điểm đomà công thức tính toán kết quả đo khác nhau. Do phép đo quan hệ với các tọa độ điểm đomà phương pháp đo một tiếp điểm còn gọi là phương pháp đo tọa độ.
Nội dung trích xuất từ tài liệu:
Chương VIII ĐO CÁC THÔNG SỐ HÌNH HỌC CỦA CHI TIẾT MÁYChương VIII ĐO CÁC THÔNG SỐ HÌNH HỌC CỦA CHI TIẾT MÁY8.1 - Các phương pháp đo kích thước thẳng 8.1.1 - Phương pháp đo 1 điểm Với phương pháp đo một tiếp điểm, đầu đo tiếp xúc với bề mặt đo từng điểm một. Từtọa độ các điểm đo, qua đó xác định được kích thước cần đo. Tùy theo cách đặt các điểm đomà công thức tính toán kết quả đo khác nhau. Do phép đo quan hệ với các tọa độ điểm đomà phương pháp đo một tiếp điểm còn gọi là phương pháp đo tọa độ. Ví dụ: sơ đồ đo lỗ như hình vẽ. Chi tiết được kẹp trên bàn đo, đầu đo bi gắn trên thântrượt của máy đo lần lượt tiếp xúc tại A và B. Tại A và B, trên máy đo tọa độ xác địnhđược tọa độ điểm tiếp xúc: XA, XB . Hình 8.1 Khi đó đường kính D: D = XA - XB + d d - đường kính bi - Ưu điểm của phương pháp đo tọa độ là có thể đo kích thước các chi tiết phức tạp, khóđo, không yêu cầu rà chỉnh chi tiết đo trước khi đo, giảm số lượng lớn các động tác chuẩn bịkhi đo. - Tùy theo số tọa độ của máy mà khả năng đo lường thông số của nó cũng càng tăng. Cóthể có các máy đo 1, 2, 3, 4, 5 tọa độ. Số tọa độ của thiết bị càng nhiều thì thao tác đo càngđơn giản. Số tọa độ càng nhiều, số điểm đo càng nhiều thì việc xác định kết quả đo càngkhó khăn. - Phần lớn các thiết bị đo tọa độ có trang bị sẵn các chương trình tính cho các yêu cầu đothường gặp để giúp cho quá trình đo nhanh chóng. Ví dụ thiết bị QM Data được trang bị trêncác máy đo tọa độ ... Độ chính xác của phương pháp đo phụ thuộc vào số điểm đo và cáchphân bố các điểm đo trên chi tiết đo. 108 8.1.2 - Phương pháp đo 2 điểm. - Là phương pháp đo hai tiếp điểm mà khi đo các yếu tố đo của thiết bị đo tiếp xúc cùnglúc với bề mặt chi tiết đo ít nhất là trên 2 tiếp điểm. Trong đó, nhất thiết phải có 2 tiếpđiểm nằm trên phương biến thiên của kích thước đo 0 - 0 0 0 M§ M§ C MC MC 0 0 Hình 8.2 - Trong 2 tiếp điểm, một gắn với yếu tố định chuẩn MC và một gắn với yếu tố đo MĐ.Yêu cầu MĐ // MC và cùng vuông góc với 0 - 0. áp lực đo có phương trùng với 0-0. Để chitiết đo được ổn định, nâng cao độ chính xác, khi đo người ta cần chọn mặt chuẩn và mặt đophù hợp với hình dáng bề mặt đo (mặt đo phải song song với mặt chuẩn và vuông góc với 0- 0) sao cho chi tiết đo ổn định dưới tác dụng của áp lực đo. - Ngoài ra, để giảm ảnh hưởng của sai số chế tạo mặt chuẩn và mặt đo (MC không songsong với MĐ) cần có thêm các tiếp điểm phụ C để làm ổn định thông số đo và thực hiệnphương pháp đo so sánh với chi tiết mẫu có hình dạng gần giống với chi tiết đo. 8.1.3 - Phương pháp đo 3 điểm. - Là phương pháp đo mà khi đo các yếu tố đo của thiết bị đo tiếp xúc cùng lúc với bề mặtchi tiết đo ít nhất là 3 điểm. Trong đó, không tồn tại một cặp tiếp điểm nào nằm trênphương biến thiên của kích thước đo. * Cơ sơ của phương pháp: ∆h ∆h α α Hình 8.3 109 a) Từ một điểm I ngoài vòng tròn, quan sát vòng tròn dưới 2 tiếp điểm IA và IB hợp vớinhau góc α. Khi R thay đổi thì tâm O của vòng tròn thay đổi trên phân giác Ix. Để nhận biết được sự thay đổi này, người ta có thể đặt điểm quan sát tại M hoặc N.Chuyển vị ở M hoặc N sẽ cho sự thay đổi của h. h 1 Với: R= ±1 . α Sin 2 Dấu ( + ) khi đặt điểm quan sát ở N (1). Dấu ( - ) khi đặt điểm quan sát ở M (2). Trong kỹ thuật bắt buộc phải tiến hành phép đo so sánh vì kích thước h không xác địnhđược. ∆h 1 Do đó có: ∆R = ± 1 và R = R0 + ∆R α Sin 2 Trong đó: R0 là bán kính chi tiết mẫu dùng khi so sánh. Ứng với điều kiện (1) ta có sơ đồ đo a) và điều kiện (2) ta có sơ đồ đo b). Tỷ số truyền phụ của sơ đồ đo: 1 ∆h ±1 K= = Sin α ∆R 2 Với 450 ≤ α ≤ 1200 thì luôn có Ka ≥ 1, K ...