Danh mục

Khóa luận tốt nghiệp: Nghiên cứu sự phụ thuộc của hệ số trùng phùng vào bề dày và mật độ mẫu phân tích

Số trang: 45      Loại file: pdf      Dung lượng: 0.00 B      Lượt xem: 24      Lượt tải: 0    
tailieu_vip

Xem trước 5 trang đầu tiên của tài liệu này:

Thông tin tài liệu:

Nội dung chính của khóa luận nghiên cứu sự phụ thuộc của hệ số trùng phùng vào bề dày và mật độ mẫu phân tích bằng cách sử dụng mẫu chuẩn RGU do IAEA cung cấp và đo bằng hệ phổ kế gamma sử dụng đầu dò HPGe. Mời các bạn tham khảo!

Tài liệu được xem nhiều:

Gợi ý tài liệu liên quan: