Khóa luận tốt nghiệp: Nghiên cứu sự phụ thuộc của hệ số trùng phùng vào bề dày và mật độ mẫu phân tích
Số trang: 45
Loại file: pdf
Dung lượng: 0.00 B
Lượt xem: 24
Lượt tải: 0
Xem trước 5 trang đầu tiên của tài liệu này:
Thông tin tài liệu:
Nội dung chính của khóa luận nghiên cứu sự phụ thuộc của hệ số trùng phùng vào bề dày và mật độ mẫu phân tích bằng cách sử dụng mẫu chuẩn RGU do IAEA cung cấp và đo bằng hệ phổ kế gamma sử dụng đầu dò HPGe. Mời các bạn tham khảo!
Tìm kiếm theo từ khóa liên quan:
Khóa luận tốt nghiệp đại học Khóa luận tốt nghiệp Sư phạm Vật lí Phương pháp dạy học môn Vật lý Chương trình MCNP – CP Hệ phổ kế gamma HPGeGợi ý tài liệu liên quan:
-
55 trang 180 0 0
-
51 trang 172 0 0
-
70 trang 164 0 0
-
Khóa luận tốt nghiệp đại học ngành Dược học: Nghiên cứu bào chế dầu gội đầu chứa mật ong
71 trang 159 0 0 -
44 trang 146 0 0
-
75 trang 141 0 0
-
Khóa luận tốt nghiệp đại học: Thống kê Bose – Einstein và các ứng dụng trong hệ nhiều hạt
36 trang 139 0 0 -
143 trang 120 0 0
-
Khóa luận tốt nghiệp: Xác định nguyên tử số hiệu dụng Z-eff của một số chất lỏng
64 trang 113 0 0 -
57 trang 109 0 0