Danh mục

Luận văn Thạc sĩ Khoa học: Phân tích mẫu đá quý văn hóa Óc Eo trên máy huỳnh quang tia X−Titan S800

Số trang: 66      Loại file: pdf      Dung lượng: 5.71 MB      Lượt xem: 14      Lượt tải: 0    
Hoai.2512

Xem trước 7 trang đầu tiên của tài liệu này:

Thông tin tài liệu:

Mục tiêu của luận văn là sử dụng phương pháp huỳnh quang tia X trên máy TiTan-S800 xác định hàm lượng của các nguyên tố có trong mẫu đá quý thời kỳ văn hóa Óc Eo. Kết quả thu được của luận văn nhận diện và xác định được hàm lượng các nguyên tố đặc trưng có trong đá quý nền văn hóa Óc Eo.
Nội dung trích xuất từ tài liệu:
Luận văn Thạc sĩ Khoa học: Phân tích mẫu đá quý văn hóa Óc Eo trên máy huỳnh quang tia X−Titan S800 ĐẠI HỌC QUỐC GIA HÀ NỘI TRƢỜNG ĐẠI HỌC KHOA HỌC TỰ NHIÊN Nguyễn Văn Hưng PHÂN TÍCH MẪU ĐÁ QUÝ VĂN HÓA ÓC EOTRÊN MÁY HUỲNH QUANG TIA X−TITAN S800 LUẬN VĂN THẠC SĨ KHOA HỌC Hà Nội − Năm 2019 ĐẠI HỌC QUỐC GIA HÀ NỘI TRƢỜNG ĐẠI HỌC KHOA HỌC TỰ NHIÊN Nguyễn Văn Hưng PHÂN TÍCH MẪU ĐÁ QUÝ VĂN HÓA ÓC EOTRÊN MÁY HUỲNH QUANG TIA X−TITAN S800 Chuyên ngành: Vật lý nguyên tử Mã số: 8440130.04. LUẬN VĂN THẠC SĨ KHOA HỌC NGƯỜI HƯỚNG DẪN KHOA HỌC: PGS. TS. Bùi Văn Loát Hà Nội − Năm 2019 Lời cảm ơn Em xin bày tỏ lời cảm ơn chân thành và sâu sắc tới giáo viên hướng dẫnPGS.TS Bùi Văn Loát đã trực tiếp hướng dẫn và giúp đỡ em trong quá trình làmluận văn tốt nghiệp. Em xin gửi lời cảm ơn chân thành tới PGS.TS. Nguyễn Quang Miên ViệnKhảo Cổ học Việt Nam, chủ nhiệm đề tài “Phân tích mẫu đá quý văn hóa Óc Eotrên máy huỳnh quang tia X−TITAN S800” đã tạo mọi điều kiện về cơ sở vật chấtvà hướng dẫn em trong quá trình làm thực nghiệm. Em cũng xin bày tỏ sự kính trọng và lòng biết ơn sâu sắc tới các thầy cô trongBộ môn Vật lý hạt nhân − Khoa Vật lý đã hết sức chỉ dạy, giúp đỡ em trong quátrình học tập. Những bài giảng tỉ mỉ và lôi cuốn của các thầy, cô đã giúp em rấtnhiều khi chuyển sang học một chuyên ngành mới. Tác giả xin gửi lời cảm ơn tới: Các thầy, cô giáo tham gia giảng dạy lớp Cao học Vật lý 2017−2019. Viện Khảo cổ học đã tạo điều kiện về trang thiết bị, phòng thí nghiệm sử dụngcác hệ đo phục vụ cho luận văn. Các bạn học viên cao học khóa 2017−2019 ngành Vật lý nói chung và chuyênngành Vật lý nguyên tử nói riêng, đã luôn cùng đồng hành trong học tập, nghiêncứu và các hoạt động khác. Cuối cùng, xin bày tỏ lòng cảm ơn tới gia đình và bạn bè đã thường xuyênđộng viên, khuyến khích và tạo mọi điều kiện để tác giả hoàn thành luận văn. Hà Nội, tháng 11 năm 2019 Nguyễn Văn Hưng MỤC LỤCMỞ ĐẦU .......................................................................................................... 1CHƢƠNG 1: TỔNG QUAN........................................................................... 21.1. Vài nét về nền văn hóa Óc Eo ................................................................. 21.2. Phương pháp phân tích huỳnh quang tia X xác định hàm lượngnguyên tố .......................................................................................................... 51.1.1. Cơ sở vật lý.............................................................................................. 51.2.2. Quá trình kích thích nguyên tử ............................................................... 51.2.3. Phổ tia X đặc trưng ................................................................................. 81.2.4. Hiệu suất huỳnh quang.......................................................................... 101.2.5. Cường độ chùm tia X đặc trưng ............................................................ 111.3. Kỹ thuật đo và phân tích phổ tia X ...................................................... 151.3.1. Yêu cầu nguồn kích thích ...................................................................... 151.3.2. Yêu cầu về mẫu phân tích ..................................................................... 161.3.3. Yêu cầu về Detector đo tia X ................................................................. 161.4. Các phương pháp xác định hàm lượng ................................................ 171.4.1 . Phương pháp so sánh tương đối .......................................................... 171.4.2. Phương pháp chuẩn trong..................................................................... 171.5. Các nguồn sai số ..................................................................................... 181.5.1. Sai số bắt nguồn từ quá trình làm mẫu ................................................. 181.5.2. Sai số do hiệu ứng ma trận và các hiệu ứng bậc cao ........................... 181.6. Ứng dụng ................................................................................................. 18CHƢƠNG 2: THIẾT BỊ VÀ PHƢƠNG PHÁP THỰC NGHIỆM .......... 202.1. Thiết bị .................................................................................................... 202.2. Detector tia X SDD ................................................................................ 212.2.1. Các bộ phận của detector SDD............................................................. 232.2.2. Cơ chế hoạt động của SDD........................................... ...

Tài liệu được xem nhiều:

Gợi ý tài liệu liên quan: