Danh mục

Measurement Process Characterization_1

Số trang: 31      Loại file: pdf      Dung lượng: 1.49 MB      Lượt xem: 14      Lượt tải: 0    
Jamona

Xem trước 4 trang đầu tiên của tài liệu này:

Thông tin tài liệu:

Cộng đồng bán dẫn trên toàn thế giới phải đối mặt với những thách thức ngày càng khó khăn khi nó di chuyển vào việc sản xuất chip với kích thước tính năng tiếp cận 100 nm và hơn thế nữa. Độ lớn của những thách thức này đòi hỏi sự quan tâm đặc biệt từ cộng đồng đo lường và đo lường phân tích. Mô hình mới phải được tìm thấy. Nghiên cứu và phát triển đầy đủ cho các khái niệm về đo lường mới cần thiết. Các chủ đề bao gồm: lịch sử mạch tích hợp, thách...
Nội dung trích xuất từ tài liệu:
Measurement Process Characterization_1

Tài liệu được xem nhiều: