Danh mục

Phát hiện khuyết điểm trên bề mặt trái bưởi sử dụng không gian màu CIE L*a*b* và thuật toán phân đoạn ảnh toàn cục

Số trang: 7      Loại file: pdf      Dung lượng: 6.53 MB      Lượt xem: 11      Lượt tải: 0    
tailieu_vip

Hỗ trợ phí lưu trữ khi tải xuống: 4,000 VND Tải xuống file đầy đủ (7 trang) 0
Xem trước 2 trang đầu tiên của tài liệu này:

Thông tin tài liệu:

Bài viết giới thiệu một phương pháp hiệu quả để phát hiện khuyết tật trên bề mặt trái Bưởi, nhằm loại bỏ những trải không đạt chất lượng một cách tự động bằng máy tính trước khi đóng gói xuất khẩu, Trải Bưởi sau khi lấy mẫu được chuyển đổi sang không gian ảnh màu CIE L*a*5* và tách thành các thành phần kênh màu riêng biệt, kênh màu a* được chọn để phân tích và xử lý.
Nội dung trích xuất từ tài liệu:
Phát hiện khuyết điểm trên bề mặt trái bưởi sử dụng không gian màu CIE L*a*b* và thuật toán phân đoạn ảnh toàn cục

Tài liệu được xem nhiều:

Tài liệu liên quan: