Phát hiện khuyết điểm trên bề mặt trái bưởi sử dụng không gian màu CIE L*a*b* và thuật toán phân đoạn ảnh toàn cục
Số trang: 7
Loại file: pdf
Dung lượng: 6.53 MB
Lượt xem: 11
Lượt tải: 0
Xem trước 2 trang đầu tiên của tài liệu này:
Thông tin tài liệu:
Bài viết giới thiệu một phương pháp hiệu quả để phát hiện khuyết tật trên bề mặt trái Bưởi, nhằm loại bỏ những trải không đạt chất lượng một cách tự động bằng máy tính trước khi đóng gói xuất khẩu, Trải Bưởi sau khi lấy mẫu được chuyển đổi sang không gian ảnh màu CIE L*a*5* và tách thành các thành phần kênh màu riêng biệt, kênh màu a* được chọn để phân tích và xử lý.
Nội dung trích xuất từ tài liệu:
Phát hiện khuyết điểm trên bề mặt trái bưởi sử dụng không gian màu CIE L*a*b* và thuật toán phân đoạn ảnh toàn cục
Nội dung trích xuất từ tài liệu:
Phát hiện khuyết điểm trên bề mặt trái bưởi sử dụng không gian màu CIE L*a*b* và thuật toán phân đoạn ảnh toàn cục
Tìm kiếm theo từ khóa liên quan:
Nghiên cứu khoa học Khuyết điểm trên bề mặt trái bưởi Không gian màu CIE Thuật toán phân đoạn ảnh toàn cục Bưởi đóng gói xuất khẩuTài liệu liên quan:
-
Đề tài nghiên cứu khoa học: Kỹ năng quản lý thời gian của sinh viên trường Đại học Nội vụ Hà Nội
80 trang 1561 4 0 -
Tiểu luận: Phương pháp Nghiên cứu Khoa học trong kinh doanh
27 trang 499 0 0 -
57 trang 345 0 0
-
33 trang 337 0 0
-
Tiểu luận môn Phương Pháp Nghiên Cứu Khoa Học Thiên văn vô tuyến
105 trang 277 0 0 -
95 trang 272 1 0
-
Phương pháp nghiên cứu trong kinh doanh
82 trang 271 0 0 -
29 trang 231 0 0
-
Tóm tắt luận án tiến sỹ Một số vấn đề tối ưu hóa và nâng cao hiệu quả trong xử lý thông tin hình ảnh
28 trang 224 0 0 -
4 trang 220 0 0