Danh mục

ứng dụng phân tích dầu bôi trơn và hạt mài mòn trong chẩn đoán kỹ thuật máy, chương 9

Số trang: 6      Loại file: pdf      Dung lượng: 323.86 KB      Lượt xem: 12      Lượt tải: 0    
10.10.2023

Xem trước 2 trang đầu tiên của tài liệu này:

Thông tin tài liệu:

Độ chính xác * Định nghĩa - Cấp chính xác: Cấp chính xác là khả năng lặp lại của kết qủa từ nhiều lần đo giống hệt nhau. Độ phân bố năng lượng của XRF được dùng để xác định mức độ tập trung của nguyên tổ nhờ vào việc đo cường độ tia X hay cũng chính là năng lượng của tia X. Cường độ của tia X tại một mức năng lượng được xác định bằng cách đếm số lượng các sự kiện xuất hiện tại mức năng lượng đó trong một trong thời gian cho trước, kết...
Nội dung trích xuất từ tài liệu:
ứng dụng phân tích dầu bôi trơn và hạt mài mòn trong chẩn đoán kỹ thuật máy, chương 9Chương 9: Phép đo và kết quả a. Độ chính xác* Định nghĩa- Cấp chính xác: Cấp chính xác là khả năng lặp lại của kết qủa từ nhiều lần đogiống hệt nhau. Độ phân bố năng lượng của XRF được dùng đểxác định mức độ tập trung của nguyên tổ nhờ vào việc đo cườngđộ tia X hay cũng chính là năng lượng của tia X. Cường độ của tiaX tại một mức năng lượng được xác định bằng cách đếm số lượngcác sự kiện xuất hiện tại mức năng lượng đó trong một trong thờigian cho trước, kết quả là được các đỉnh trong phổ năng lượng. Vìbức xạ của tia X là ngẫu nhiên, cho nên số các sự kiện đo đượctrong một khoảng thời gian cố định trên một chuỗi các phép đogiống hệt nhau sẽ thay đổi. Vì thế, có thể sẽ đưa ra các kết quảphân tích khác nhau nhưng sẽ là không đáng kể.- Độ chính xác: Ngược lại với cấp chính xác của một phép đo, độ chính xác đượcđịnh nghĩa là độ lệch của kết quả đo được so với giá trị thực hoặcgiá trị đó được chứng nhận. Trong trường hợp không có bất cứ saisố hệ thống nào, giá trị trung bình của nhiều kết quả thu được từnhiều phép đo giống hệt nhau sẽ cho ta giá trị thực khi số lượngcác phép đo tăng lên. Các thủ tục hiệu chỉnh được sử dụng trongTN Alloy Pro được xây dựng để giảm thiểu các lỗi hệ thốngGiá trị trung bình Năng lượng keV Độ lệch so với giá trị trung bỡnh Dữ liệu tập trung (mức năng lượng của các photon phản xạ lại trong một khoảng thời gian) Độ lệch so với giá trị trung bìnhHình 3.24 Dữ liệu tập trung (mức năng lượng của các photonphản xạ lại trong một khoảng thời gian)- Sai số: sai số chủ yếu của phép đo là do tính ngẫu nhiên của sựphát xạ tia X. Tuy nhiên, sai số cũng có thể là kết quả của nhiềunguyên nhân khác, ví dụ như do vị trí đặt mẫu, có lớp bẩn hoặc lớpphủ bám trên bề mặt của mẫu, do quá trình chuyển động khi đohoặc do các sai số hoạt động. Sự phân bổ của dữ liệu (số các sựkiện tia X đếm được hoặc cường độ tia X) có dạng như đườngcong hình chữ U là phân bố Gaussian (Hình 3.24). Độ lệch chuẩncủa sự phân bố chính là sai số của phép đo theo số lượng các sựkiện tia X đếm được. Thiết bị sẽ cho ta độ lệch chuẩn quanh giá trịtrung bình là giá trị mà thiết bị cho đó là nơi tập trung nguyên tố.* Mối liên hệ giữa Cấp chính xác và Thời gian đo Sai số của phép đo sẽ giảm xuống khi thời gian đo tăng lên. Cấpchính xác 0,5 sẽ có thời gian đo bằng một phần tư của thời gian đokhi cấp chính xác là 1. Việc thay đổi cấp chính xác 1 lên 2 sẽ làmthời gian gấp 4 lần và sai số (hoặc độ lệch chuẩn) sẽ giảm đi mộtnữa. Các nguồn phóng xạ sử dụng càng lâu thì số tia X bức xạ cànggiảm, do đó cần phải tăng thời gian đo để giữ cho cấp chính xáckhông đổi. TN Alloy Pro sẽ tự động tăng thời gian đo khi cácnguồn già đi để đảm bảo kết quả đo là không thay đổi khi đo cácmẫu giống nhau trong cùng điều kiện đo. Chính vì thế, sử dụngmột cấp chính xác nào cũng phải đảm bảo chất lượng phép đo vàsai số hệ thống cho dù các nguồn có bị già đi. Thay đổi cấp chính xác và thời gian đo bằng cách kích vào tabPrecision. Chọn nguồn muốn sử dụng bằng cách kích vào biểutượng mũi tên để menu chọn nguồn xổ xuống. Rồi đặt cấp chínhxác (thời gian đo sẽ tự động thay đổi theo tính toán) hoặc thời gianđi tính theo giây (cấp chính xác sẽ tự động thay đổi theo tính toán).a. Tiến hành đoSau khi bật thiết bị, thiết bị sẽ tải thư viện hợp kim và khởi độngthiết bị. Màn hình Safety xuất hiện.  Phép đo sẽ không thể tiến hành nếu tia X không được kích hoạt. Kích hoạt nguồn phát xạ bằng cách chọn X-Rays Enabled.  Kích vào nút Start để hiện thị màn hình Start. - Sử dụng cấu hình mặc định, hoặc sử dụng cấu hình khác bằng cách chọn Select Another Configuration. - Kích vào Start trên màn hình hoặc nhấn cò súng để bắt đầu đo. Hình 3.25A` Hình 3.25-B (trái) & 3.25-C (phải): Phép đo đếm ngược Trong suốt phép đo, nguồn phóng xạ được kích hoạt và một đồnghồ đếm ngược chỉ thị lượng thời gian còn lại mà nguồn phóng xạnày sẽ sử dụng (hình 3.25-B và 3.25-C). Có thể dừng quá trình đobất cứ lúc nào bằng cách kích vào nút STOP trên màn hình hoặcnhấn vào cò súng một lần nữa. Phép đo thực hiện theo chu trình từnguồn Cd109 rồi đến Fe55. Thời gian phát xạ của mỗi nguồn phụthuộc vào “tuổi” của nguồn. Đây chính là sự hiệu chỉnh của nhàsản xuất từ trước, cho nên không cần phải điều chỉnh.c. Màn hình kết quả Sau khi thực hiện phép đo, đầu đo sẽ đối chiếu dữ liệu đo đượcvới dữ liệu có sẵn trong thư viện. Màn hình kết quả có 3 dạng: Màn hình đầu tiên (hình 3.26-A) hiển thị không đối chiếu đượcvới hợp kim nào trong thư viện. Các hợp kim phía dưới chữ NoMatch là các hợp ...

Tài liệu được xem nhiều:

Gợi ý tài liệu liên quan: