X-RAY DIFFRACTION

Tia X hay quang tuyến X hay X quang hay tia Röntgen là một sóng điện từ có bước sóng trong khoảng 10 nanômét đến 100 picômét (tức là tần số từ 30 PHz đến 3EHz). Tia X có khả năng xuyên qua nhiều vật chất (như cơ thể người) nên thường được dùng trong chụp ảnh y tế, nghiên cứu tinh thể. Tuy nhiên tia X có khả năng gây ion hóa hoặc các phản ứng có thể nguy hiểm cho sức khỏe con người, do đó bước sóng, cường độ và thời gian chụp ảnh y tế luôn...
Nội dung trích xuất từ tài liệu:
X-RAY DIFFRACTION TRƯỜNG ĐẠI HỌC CẦN THƠ KHOA KHOA HỌCGVDH: Ths - Nguyễn Thị Diệp Chi SVTH: 1. Võ Văn Quốc 2082233 2. Lê Nguyên Khang 2082179 3. Nguyễn Lê Linh 2082226 4. Trương Thanh Tài 2082792 5. Nguyễn Hoàng Duy 2092123 Báo CáoCác Phương Pháp Phân Tích Hiện Đại Đề Tài: X-RAY DIFFRACTION Giới thiệu1 Cơ sở của nhiễu xạ tia X 2 Máy phân tích phổ XRD. 3 4 Đặc trưng phổ XRD của một số vật liệu. X-RAY DIFFRACTION Giới thiệu về tia X• Năm 1895 Rơntghen tình cờ phát hiện ra tia X.• Năm 1901 Ông đạt giải Nobel. 1845 – 1923 Tia X Hình chụp xương bàn tay của bà Röngent 22/12/1895 đến 10 − m• Tia X có bước sóng trong khoảng: 10 −11 m 8 Tia X• Tính chất:Khả năng xuyên thấu lớn. Gây ra hiện tượng phát quang ở một số chất. Làm đen phim ảnh, kính ảnh. Ion hóa các chất khí. Tác dụng mạnh lên cơ thể sống, gây hại cho sức khỏe. Tia XSự phát sinh tia RöngentTia X Huỳnh quang tia X Nhiễu xạ tia X Xác định hàm lượng nguyên tố cóPhân tích cấu trúc rắn, vật liệu… trong mẫu Phân tích cấu trúc tinh thể bằng nhiễu xạ tia X• Max von Laue: quan sat và ́ giai thich hiên tượng nhiêu ̉ ́ ̣ ̃ MaxvonLaue xạ tia X trên tinh thể vao ̀ ̣ ̉ năm 1912. Ông nhân giai Nobel năm 1914 cho công trình này.• W.H.Bragg và W.L.Bragg: ̣ ̉ nhân giai Nobel năm 1915 cho sự đóng góp của họ trong việc phân tích cấu W.L.Bragg là người trẻ trúc tinh thể bằng tia X. ́ ̣ ̉ nhât đat giai Nobel (năm ̉ 25 tuôi) 2. Cơ sở của nhiễu xạ tia XHiện tượng nhiễu xạ tia X:- Nhiễu xạ là đặc tính chung của các sóng bị thay đổi khi tương tác với vật chất và là sự giao thoa tăng cường của nhiều hơn một sóng tán xạ.- Mỗi photon có năng lượng E tỷ lệ với tần số của hc nó: E = h ∗ υ λ= ETrong đó:h - hằng số Plank, h = 4,136. 10-15 e5.s hay 6,626.10-34 J.s.c – tốc độ ánh sáng c = 2,998. 108 m/s.2. Cơ sở của nhiễu xạ tia X 2. Cơ sở của nhiễu xạ tia XThiết bị thí nghiệm nhiễu xạ của Laue và cộng sự 2. Cơ sở của nhiễu xạ tia XĐịnh luật Vulf-BraggĐịnh luật Vulf-Bragg được đưa ra năm 1913 thể hiện mối quan hệ giữa bước sóng tia X và khoảng cách giữa các mặt phẳng nguyên tử. 2. Cơ sở của nhiễu xạ tia X Nhiễu xạ tia X bởi các mặt phẳng của nguyên tử (A-A’ - B-B’). nλ = 2d hkl sinθPhương trình Bragg có dạng sau: λ = 2 ( d hkl / n ) sinθ n>13. Máy phân tích XRD và các phương pháp ghi phổ XRD3. Máy phân tích XRD và các phương pháp ghi phổ XRD 3. Máy phân tích XRD và các phương pháp ghi phổ XRD Cấu tạo:- Ống phát tia X: gồm anot và catot- Tấm lọc tia Kβ.Giá để mẫu.- Detector:+ Detector nhấp nháy(*)+ Gas-filled proportional counters+ CCD area detectors+ Image plate+ X-ray filmGIÁ ĐỂ MẪU Detector nhấp nháy• Detector thông dụng nhất trong việc phân tích vật liệu bởi nhiễu xạ tia X• Detector có 2 thành phần cơ bản – Tinh thể phát ra ánh sáng thấy (scintillates) khi tương tác với tia X – Ống nhân Quang (PMT): chuyển ánh sáng thành tín hiệu điện. gain ~5× per dynode (totalNaI(Tl) scintillator gain with ten(very sensitive to dynodes ismoisture) – emits 5 ≈ 10 )around 4200Å CsSb photocathode – ejects electrons ...