Xác định sự xuất hiện vết nứt bằng phương pháp biến đổi Wavelet
Số trang: 10
Loại file: pdf
Dung lượng: 10.36 MB
Lượt xem: 10
Lượt tải: 0
Xem trước 2 trang đầu tiên của tài liệu này:
Thông tin tài liệu:
Nghiên cứu này trình bày về độ nhạỵ của chuyển vị tấm có vết nứt sau khi dùng phương pháp Phần tử hữu hạn mở rộng (eXtended Finite Element Method - XFEM) và biến đổi Wavelet được phân tích. Sự ảnh hưởng của chiều dài vết nứt và vị trí vết nứt được nghiên cứu. Các giá trị chuyển vị thu được từ bài toán tĩnh được tính toán bằng XFEM và phương pháp Newmark dựa trên mô hình phần tử đẳng tham số tứ giác 4 nút. Mời các bạn tham khảo!
Nội dung trích xuất từ tài liệu:
Xác định sự xuất hiện vết nứt bằng phương pháp biến đổi Wavelet
Nội dung trích xuất từ tài liệu:
Xác định sự xuất hiện vết nứt bằng phương pháp biến đổi Wavelet
Tìm kiếm theo từ khóa liên quan:
Biến đổi Wavelet Phương pháp phần tử hữu hạn mở rộng Giá trị chuyển vị Tấm có vết nứt Phương pháp NewmarkGợi ý tài liệu liên quan:
-
Đồ án: Kỹ thuật xử lý ảnh sử dụng biến đổi Wavelet
41 trang 214 0 0 -
Phân tích hiệu suất của dữ liệu ảnh Light Field với các chuẩn mã hóa video và hình ảnh
6 trang 31 0 0 -
Đồ án tốt nghiệp Điện tử viễn thông: Kỹ thuật xử lý ảnh sử dụng biến đổi Wavelet
40 trang 23 0 0 -
Tính toán ứng suất trong tấm phẳng có lỗ trống bằng phương pháp phần tử hữu hạn mở rộng
4 trang 23 0 0 -
Mô hình toán học cho bài toán phân loại các khuyết tật mặt đường
11 trang 21 0 0 -
Một tiếp cận mới trong việc tổng hợp ảnh y học dựa trên giải thuật tối ưu MPA
8 trang 17 0 0 -
12 trang 15 0 0
-
Tính toán dao động phi tuyến của móng máy trên nền đàn nhớt cấp phân số chịu kích động lệch tâm
4 trang 15 0 0 -
Luận văn thạc sĩ: Nén ảnh sử dụng biến đổi Wavelet và ứng dụng truyền ảnh tĩnh trên mạng di động
96 trang 14 0 0 -
Mô phỏng phân tích độ bền khung vỏ ô tô khách khi lật ngang
5 trang 13 0 0