Danh mục

Xác định thành phần và một số tính chất hóa lý của dung dịch tẩy xạ RDS 2000

Số trang: 6      Loại file: pdf      Dung lượng: 0.00 B      Lượt xem: 15      Lượt tải: 0    
Thư viện của tui

Xem trước 2 trang đầu tiên của tài liệu này:

Thông tin tài liệu:

Bài viết giới thiệu kết quả phân tích xác định thành phần của chất tẩy xạ RDS 2000 được sản xuất bởi hãng Karcher/CHLB Đức. Bằng các phương pháp phân tích hóa lý hiện đại (IR, HPLC, LC/MS,…), đã xác định được chất tẩy xạ RDS 2000 bao gồm 2 thành phần, trong đó, thành phần 1 là hỗn hợp của axit xitric trong hệ các chất hoạt động bề mặt không ion ankyl polyglucoside.
Nội dung trích xuất từ tài liệu:
Xác định thành phần và một số tính chất hóa lý của dung dịch tẩy xạ RDS 2000Hóa học & Kỹ thuật môi trường XÁC ĐỊNH THÀNH PHẦN VÀ MỘT SỐ TÍNH CHẤT HÓA LÝ CỦA DUNG DỊCH TẨY XẠ RDS 2000 Nguyễn Văn Hoàng*, Đỗ Xuân Trường, Nguyễn Khánh Hoàng Việt Tóm tắt: Bài báo giới thiệu kết quả phân tích xác định thành phần của chất tẩy xạ RDS 2000 được sản xuất bởi hãng Karcher/CHLB Đức. Bằng các phương pháp phân tích hóa lý hiện đại (IR, HPLC, LC/MS,…), đã xác định được chất tẩy xạ RDS 2000 bao gồm 2 thành phần, trong đó, thành phần 1 là hỗn hợp của axit xitric trong hệ các chất hoạt động bề mặt không ion ankyl polyglucoside, có chiều dài mạch cacbon n=10-18 và bậc polyme hóa DP=1-2, dung dịch có tính axit mạnh (pH=1,9), độ nhớt động học cao (=5,46, ở 30oC) độ tạo bọt và độ ổn định bọt cao, tương ứng là 445 mL và 99,29%; thành phần 2 là dung dịch nước của natri xitrat và axit xitric, có tính kiềm yếu (pH=8,1). RDS2000 có khả năng tẩy rửa tốt, giá trị pH của dung dịch ổn định (xấp xỉ 4), ở nồng độ sử dụng (0,5-5%).Từ khóa: Xác định thành phần; Tính chất hóa lý; Dung dịch RDS 2000. 1. MỞ ĐẦU Tẩy xạ cho vũ khí, trang bị kỹ thuật sau khi bị nhiễm bụi bẩn phóng xạ là yêu cầu bắtbuộc để đảm bảo an toàn cho người sử dụng. Hiện nay, có thể sử dụng nhiều phương phápkhác nhau để tẩy xạ bề mặt như: phương pháp cơ học (quét, kỳ cọ, lau chùi bằng giẻ,…),phương pháp hóa học (sử dụng các chất tẩy xạ) [1]. Để có hiệu quả cao thường kết hợp cả2 phương pháp này. Trên thế giới, các nhà khoa học đã nghiên cứu phát triển nhiều loạichất tẩy xạ sử dụng để tẩy xạ cho các bề mặt khác nhau như: RDS2000, EAI Rad-ReleaseI, EAI Rad-Release II, Intek ND-75, Intek ND-600, Intek LH-21, SDF, UDF… [3-5].Trong đó, RDS 2000 là chất tẩy xạ dạng lỏng gồm hai thành phần, do hãng Karcher/CHLBĐức chế tạo, đã được nhiều quốc gia sử dụng [3, 5]. Ở nước ta, RDS 2000 mới được nhập ngoại để sử dụng thay thế cho chất tẩy xạ CF-2,CF-2U (Liên Xô cũ). Tuy nhiên, thành phần và một số tính chất hóa lý đặc trưng của dungdịch RDS 2000 hiện không được nhà sản xuất công bố, gây khó khăn trong việc lựa chọnthiết bị tiêu tẩy, đặc biệt là các thiết bị đa dụng và trang thiết bị bảo đảm an toàn hiện đangđược trang bị trong quân đội. Bài báo này trình bày một số kết quả nghiên cứu về thànhphần chính và đặc tính hóa lý của chất tẩy xạ RDS 2000. 2. NGUYÊN VẬT LIỆU VÀ PHƯƠNG PHÁP NGHIÊN CỨU2.1. Nguyên vật liệu và hóa chất Chất tẩy xạ RDS 2000 (Karcher/CHLB Đức); axit xitric, độ tinh khiết ≥ 99% (Ấn Độ),natri xitrat, độ tinh khiết ≥ 99% (Trung Quốc), các hóa chất khác dùng để phân tích:axetonitril (Merck), KBr (dùng cho phân tích IR, Sigma), metanol (Merck), nước cất hai lần.2.2. Thiết bị Máy quang phổ hồng ngoại TENSOR II, Nicolet 670 FT-IR (Mỹ); Thiết bị sắc ký lỏnghiệu năng cao Agient 1100, detecter DAD, cột tách Zorbax (Mỹ); Thiết bị sắc ký lỏng khốiphổ LC-MSD-Trap-SL Agilent 1100 (Mỹ); Máy đo pH Mettler – Toledo AG (Thụy Sỹ) vàmột số thiết bị thí nghiệm thông dụng khác.166 N. V. Hoàng, Đ. X. Trường, N. K. H. Việt, “Xác định thành phần … tẩy xạ RDS 2000.”Nghiên cứu khoa học công nghệ2.3. Phương pháp nghiên cứu2.3.1. Phương pháp phân tích xác định một số thành phần chính của RDS 2000 Quá trình phân tích định tính các cấu tử trong thành phần 1 (TP-1) và thành phần 2(TP-2) của chất tẩy xạ RDS 2000 được thực hiện bằng các kỹ thuật phân tích hiện đại: - Phương pháp quang phổ hồng ngoại (IR): Sử dụng kỹ thuật ép viên KBr hoặc tạomàng trên cuvet KBr, dải đo 4000-400cm-1, số quét 32. - Phương pháp sắc ký lỏng khối phổ (LC/MS): Sử dụng hệ dung môi MeOH:H2O chạygradien MeOH từ 15% đến 100% trong thời gian 35 phút. Tốc độ dòng 0,6 ml/phút, cộtRP-C18 kích thước 3,0 x 150 mm, cỡ hạt 5m. Thông số MS: Nguồn ion hóa ESI, nhiệtđộ nguồn 350 oC, điện thế nguồn 3,5 kV, chế độ chạy Full Scan, mod positive. - Phương pháp sắc ký lỏng hiệu năng cao (HPLC): dải quét 190-800nm, tín hiệu đo220nm; tỷ lệ pha động (theo thể tích): metanol/nước: 30/70, tốc độ dòng 0,5ml/ phút, thểtích bơm 5L.2.3.2. Phương pháp xác định một số tính chất hóa lý của RDS 2000 Để xác định một số tính chất hóa lý đặc trưng của RDS 2000, đã sử dụng các phươngpháp sau: - Phương pháp đo pH: Các phép đo pH được thực hiện theo TCVN 6492:2011 [6]. - Phương pháp xác định độ tạo bọt: Độ tạo bọt và ổn định bọt của sản phẩm RDS 2000được xác định theo Tiêu chuẩn ngành 64 TCN 108:1998 [7]. - Phương pháp xác định độ nhớt: Độ nhớt của các thành phần TP-1 và TP-2 của dung dịchtẩy xạ RDS-2000 được xác định theo Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 3171:2011 (ASTM D 445 -11) [8]. 3. KẾT QUẢ VÀ THẢO LUẬN3.1. Phân tích thành phần của chất tẩy xạ RDS 20003.1.1. Xác định các nhóm chức đặc trưng của RDS2000 bằng phổ hồng ngoại Kết quả phân tích phổ hồng ngoại của các thành phần RDS 2000 cho ...

Tài liệu được xem nhiều: