Ảnh hưởng của bề dày, nhiệt độ và nồng độ tạp chất đối với hằng số mạng của màng mỏng Zirconia pha tạp Yttria
Số trang: 7
Loại file: pdf
Dung lượng: 590.33 KB
Lượt xem: 7
Lượt tải: 0
Xem trước 2 trang đầu tiên của tài liệu này:
Thông tin tài liệu:
nh hưởng của bề dày, nhiệt độ và nồng độ tạp chất đối với hằng số mạng của màng mỏng zirconia pha tạp yttria đã được nghiên cứu bằng phương pháp thống kê momen. Biểu thức giải tích tính toán hằng số mạng của lớp ngoài và lớp trong được suy ra có tính đến hiệu ứng phi điều hòa của dao động mạng tinh thể.
Nội dung trích xuất từ tài liệu:
Ảnh hưởng của bề dày, nhiệt độ và nồng độ tạp chất đối với hằng số mạng của màng mỏng Zirconia pha tạp Yttria TẠP CHÍ KHOA HỌC – ĐẠI HỌC TÂY BẮC Lê Thu Lam, Phạm Ngọc Thư (2020) Khoa học Tự nhiên và Công nghệ (18): 15-21 ẢNH HƯỞNG CỦA BỀ DÀY, NHIỆT ĐỘ VÀ NỒNG ĐỘ TẠP CHẤT ĐỐI VỚI HẰNG SỐ MẠNG CỦA MÀNG MỎNG ZIRCONIA PHA TẠP YTTRIA Lê Thu Lam, Phạm Ngọc Thư Trường Đại học Tây Bắc Tóm tắt: Ảnh hưởng của bề dày, nhiệt độ và nồng độ tạp chất đối với hằng số mạng của màng mỏng zirconia pha tạp yttria đã được nghiên cứu bằng phương pháp thống kê momen. Biểu thức giải tích tính toán hằng số mạng của lớp ngoài và lớp trong được suy ra có tính đến hiệu ứng phi điều hòa của dao động mạng tinh thể. Hằng số mạng của màng mỏng tăng lên cùng với sự tăng lên của nhiệt độ và nồng độ tạp chất. Sự gián đoạn trong cấu trúc tuần hoàn của mạng tinh thể tại bề mặt là nguyên nhân dẫn đến sự giãn nở màng mỏng khi kích thước giảm. Các kết quả tính toán được so sánh với các kết quả thực nghiệm. Từ khóa: hằng số mạng, bề dày, nồng độ tạp chất, màng mỏng YSZ, thống kê momen. 1. Mở đầu Phần lớn các nghiên cứu trước đây về hằng Zirconia bền hóa yttria (YSZ) là một trong số mạng của màng mỏng YSZ là các nghiên các vật dẫn oxit được nghiên cứu rộng rãi với cứu thực nghiệm. Trong bài báo này, chúng các ứng dụng quang và điện [1-5]. Chất điện tôi sử dụng phương pháp thống kê momen phân YSZ với độ dẫn ion oxy cao đã được (TKMM) để xây dựng biểu thức xác định ứng dụng phổ biến trong các thiết bị điện hóa hằng số mạng màng mỏng YSZ theo bề dày và là một vật liệu tiềm năng cho các nguồn màng mỏng, nhiệt độ và nồng độ tạp chất. Từ năng lượng thay thế [6,7]. Tuy nhiên, bán đó, chúng tôi tìm được quy luật phụ thuộc của kính tương đối lớn của các ion oxy dẫn đến bề dày màng mỏng, nhiệt độ và nồng độ tạp độ linh động ion không cao [8]. Để làm giảm chất đối với hằng số mạng màng mỏng. Các điện trở của pin, chiều dày lớp điện phân YSZ kết quả tính toán được so sánh với các kết quả đã được rút gọn tới kích thước nanomet [9], thực nghiệm. [10], [11] ... 2. Phương pháp nghiên cứu Đã có rất nhiều các nghiên cứu thực nghiệm Màng mỏng YSZ có cấu trúc fluorite gồm khảo sát ảnh hưởng của bề dày màng mỏng các cation Zr4+ và Y3+ chiếm các vị trí của đến hằng số mạng. J. Jiang et al. [12] đã quan mạng lập phương tâm diện fcc có kích thước a sát được sự giãn nở mạng theo hướng vuông và các anion O2- chiếm các vị trí của hình lập góc với chất nền khi kích thước màng mỏng phương con đơn giản có kích thước a/2. Để YSZ giảm. H. Ishigaki et al. [13] đã phát đơn giản các tính toán, chúng tôi chia màng triển epitaxial màng mỏng YSZ trên chất nền mỏng thành n lớp tinh thể con gồm hai lớp tinh Si(001) có chứa các lớp SiO2 với chiều dày thể ngoài và (n-1) lớp tinh thể trong, trong đó khác nhau. Hằng số mạng giảm và tiến đến gần mỗi lớp gồm hai dãy cation (Zr4+, Y3+) và anion giá trị của vật liệu YSZ khối khi chiều dày của O2- nằm song song với nhau và song song với màng YSZ trên 5 nm. Sự giãn nở mạng khi bề mặt. Bởi số lớp của màng mỏng là lớn nên kích thước giảm còn được ghi nhận trên các có thể coi thế tương tác giữa các ion ở các lớp màng mỏng khác có cấu trúc fluorite như màng trong bằng với thế tương tác giữa các ion trong mỏng CeO2 [14]. vật liệu khối. 15 Bởi mỗi lớp tinh thể con gồm hai dãy cation và anion nằm song song với bề mặt nên một ô độ dời yRt , yYt , yOt của các ion R4+, Y3+, O2- tại lớp cơ sở fcc kích thước amm sẽ gồm bốn lớp tinh trong và lớp ngoài màng mỏng. thể con. Suy ra bề dày trung bình d i của mỗi Độ dời của các ion ở lớp trong lớp tinh thể con là Bởi thế tương tác giữa các ion ở lớp trong a d i = mm , (1) được xem như giống với thế tương tác giữa các 4 ion trong vật liệu khối nên biểu thức xác định trong đó, amm cũng là hằng số mạng trung ...
Nội dung trích xuất từ tài liệu:
Ảnh hưởng của bề dày, nhiệt độ và nồng độ tạp chất đối với hằng số mạng của màng mỏng Zirconia pha tạp Yttria TẠP CHÍ KHOA HỌC – ĐẠI HỌC TÂY BẮC Lê Thu Lam, Phạm Ngọc Thư (2020) Khoa học Tự nhiên và Công nghệ (18): 15-21 ẢNH HƯỞNG CỦA BỀ DÀY, NHIỆT ĐỘ VÀ NỒNG ĐỘ TẠP CHẤT ĐỐI VỚI HẰNG SỐ MẠNG CỦA MÀNG MỎNG ZIRCONIA PHA TẠP YTTRIA Lê Thu Lam, Phạm Ngọc Thư Trường Đại học Tây Bắc Tóm tắt: Ảnh hưởng của bề dày, nhiệt độ và nồng độ tạp chất đối với hằng số mạng của màng mỏng zirconia pha tạp yttria đã được nghiên cứu bằng phương pháp thống kê momen. Biểu thức giải tích tính toán hằng số mạng của lớp ngoài và lớp trong được suy ra có tính đến hiệu ứng phi điều hòa của dao động mạng tinh thể. Hằng số mạng của màng mỏng tăng lên cùng với sự tăng lên của nhiệt độ và nồng độ tạp chất. Sự gián đoạn trong cấu trúc tuần hoàn của mạng tinh thể tại bề mặt là nguyên nhân dẫn đến sự giãn nở màng mỏng khi kích thước giảm. Các kết quả tính toán được so sánh với các kết quả thực nghiệm. Từ khóa: hằng số mạng, bề dày, nồng độ tạp chất, màng mỏng YSZ, thống kê momen. 1. Mở đầu Phần lớn các nghiên cứu trước đây về hằng Zirconia bền hóa yttria (YSZ) là một trong số mạng của màng mỏng YSZ là các nghiên các vật dẫn oxit được nghiên cứu rộng rãi với cứu thực nghiệm. Trong bài báo này, chúng các ứng dụng quang và điện [1-5]. Chất điện tôi sử dụng phương pháp thống kê momen phân YSZ với độ dẫn ion oxy cao đã được (TKMM) để xây dựng biểu thức xác định ứng dụng phổ biến trong các thiết bị điện hóa hằng số mạng màng mỏng YSZ theo bề dày và là một vật liệu tiềm năng cho các nguồn màng mỏng, nhiệt độ và nồng độ tạp chất. Từ năng lượng thay thế [6,7]. Tuy nhiên, bán đó, chúng tôi tìm được quy luật phụ thuộc của kính tương đối lớn của các ion oxy dẫn đến bề dày màng mỏng, nhiệt độ và nồng độ tạp độ linh động ion không cao [8]. Để làm giảm chất đối với hằng số mạng màng mỏng. Các điện trở của pin, chiều dày lớp điện phân YSZ kết quả tính toán được so sánh với các kết quả đã được rút gọn tới kích thước nanomet [9], thực nghiệm. [10], [11] ... 2. Phương pháp nghiên cứu Đã có rất nhiều các nghiên cứu thực nghiệm Màng mỏng YSZ có cấu trúc fluorite gồm khảo sát ảnh hưởng của bề dày màng mỏng các cation Zr4+ và Y3+ chiếm các vị trí của đến hằng số mạng. J. Jiang et al. [12] đã quan mạng lập phương tâm diện fcc có kích thước a sát được sự giãn nở mạng theo hướng vuông và các anion O2- chiếm các vị trí của hình lập góc với chất nền khi kích thước màng mỏng phương con đơn giản có kích thước a/2. Để YSZ giảm. H. Ishigaki et al. [13] đã phát đơn giản các tính toán, chúng tôi chia màng triển epitaxial màng mỏng YSZ trên chất nền mỏng thành n lớp tinh thể con gồm hai lớp tinh Si(001) có chứa các lớp SiO2 với chiều dày thể ngoài và (n-1) lớp tinh thể trong, trong đó khác nhau. Hằng số mạng giảm và tiến đến gần mỗi lớp gồm hai dãy cation (Zr4+, Y3+) và anion giá trị của vật liệu YSZ khối khi chiều dày của O2- nằm song song với nhau và song song với màng YSZ trên 5 nm. Sự giãn nở mạng khi bề mặt. Bởi số lớp của màng mỏng là lớn nên kích thước giảm còn được ghi nhận trên các có thể coi thế tương tác giữa các ion ở các lớp màng mỏng khác có cấu trúc fluorite như màng trong bằng với thế tương tác giữa các ion trong mỏng CeO2 [14]. vật liệu khối. 15 Bởi mỗi lớp tinh thể con gồm hai dãy cation và anion nằm song song với bề mặt nên một ô độ dời yRt , yYt , yOt của các ion R4+, Y3+, O2- tại lớp cơ sở fcc kích thước amm sẽ gồm bốn lớp tinh trong và lớp ngoài màng mỏng. thể con. Suy ra bề dày trung bình d i của mỗi Độ dời của các ion ở lớp trong lớp tinh thể con là Bởi thế tương tác giữa các ion ở lớp trong a d i = mm , (1) được xem như giống với thế tương tác giữa các 4 ion trong vật liệu khối nên biểu thức xác định trong đó, amm cũng là hằng số mạng trung ...
Tìm kiếm theo từ khóa liên quan:
Hằng số mạng Nồng độ tạp chất Màng mỏng YSZ Thống kê momen Dao động mạng tinh thểGợi ý tài liệu liên quan:
-
30 trang 28 0 0
-
Bài giảng Cơ sở vật lý chất rắn - Bài 3: Dao động mạng tinh thể
37 trang 27 0 0 -
Khóa luận tốt nghiệp đại học: Phương trình Schrodinger cho hệ nhiều hạt
50 trang 23 0 0 -
36 trang 17 0 0
-
Bài giảng Vật lý chất rắn: Chương 3 - TS. Lê Văn Thăng
62 trang 16 0 0 -
Bài giảng Vật lý chất rắn: Chương 4 - TS. Ngô Văn Thanh
21 trang 14 0 0 -
Bài giảng Cơ sở vật lý chất rắn: Chương 3 - ThS. Vũ Thị Phát Minh
23 trang 13 0 0 -
Nghiên cứu cấu trúc và tính chất quang của vật liệu phát quang Zn2SiO4 pha tạp ion Mn2+
4 trang 12 0 0 -
Đề cương bài giảng: Vật lý chất rắn
33 trang 12 0 0 -
Bài giảng Tin văn phòng: Bài 3 - ThS. Thiều Quang Trung
45 trang 11 0 0 -
Ảnh hưởng của nồng độ tạp chất và áp suất đến điện trở suất của hợp kim FeNi
6 trang 7 0 0 -
34 trang 6 0 0
-
Nghiên cứu sự khuếch tán vacancy trong ZrO2 bền hóa bởi Y2O3 bằng phương pháp thống kê momen
9 trang 4 0 0